咨詢熱線
18822857627
18822857627
追求合作共贏
Win win for you and me售前售中售后完整的服務體系
誠信經(jīng)營質(zhì)量保障價格合理服務完善
當前位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > > 分析檢測儀器 > 日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
簡要描述：日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列分光光譜儀種類MCPD-9800：高動態(tài)范圍分光MCPD-6800：紫外/可見/近紅外光分光光譜儀MCPD-7700：高感度分光
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2023-10-06訪 問 量：945產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 建材 |
|---|
分光光譜儀種類
MCPD-9800：高動態(tài)范圍分光
MCPD-6800：紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
MCPD-7700：高感度分光
膜厚測量
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜
 |  |
膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能能性薄膜、包裝膜
 |  |
LB膜測量
蒸餾膜測量
 |  |
多點膜厚測量
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）
樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能能性薄膜、包裝膜
 |  |
產(chǎn)品咨詢
